DUALSCOPE MP0涂層厚度測試的詳細資料：

DUALSCOPE MP0涂層厚度測試

1  開  /  關(guān)儀器 

說明：儀器沒有專門的開關(guān)。

打開儀器

- 當儀器放在工件上時自動開啟。如果儀器放在非鐵磁性或不導電材料上，顯示屏會顯示“Er6”，然后顯示四個水平短線而不顯示任何讀數(shù)。 
- 另一種開機方法是按 [OK]鍵。

請注意!

不要通過手指壓迫傳感器來開啟儀器！這樣可能會導致錯誤的測量結(jié)果。

關(guān)閉儀器 / 自動關(guān)閉

一分鐘不使用，儀器會自動關(guān)閉。 （關(guān)閉 = 儀器沒有任何顯示）。

2  測量涂鍍層厚度

• 儀器開啟后，把儀器放在要測量工件上，等待儀器發(fā)出測量聲響。這種方式可以自動開啟儀器。 
• 把儀器提離工件。 
  測量聲響后顯示讀數(shù)。說明：若太早提起儀器(未有聲響前)，錯誤信息 “Er6”會出現(xiàn)。重復步驟1。

3.  當儀器已在開啟狀態(tài)時， 讀數(shù)會馬上顯示。儀器放在測量工件上及提起后均有顯示。

1  顯示儀器內(nèi)儲存的測量數(shù)據(jù)

儀器zui多可以儲存999個測量數(shù)據(jù)。 

• 用 [5]鍵或 [6]鍵可翻看測量數(shù)據(jù)。
• 翻過*個或者zui后一個測量數(shù)據(jù)后，屏幕將顯示 “- - - - “并維持1秒鐘左右。  
  任何時候您都可以繼續(xù)測量。

2  刪除所有測量數(shù)據(jù)

• 按 [5] 或 [6]鍵。
• 按 [CAL]鍵。 
  “del” 即刪除將顯示 2 秒鐘。
• 在“del”顯示的時候按[OK]鍵。
  儀器內(nèi)所有測量數(shù)據(jù)將被刪除。 
  當 “del”不顯示的時候按 [OK]鍵將無任何反應。

3  歸一化

歸一化用來對測量儀器進行調(diào)整。歸一化需要未鍍過的底材，而且底材的形狀和物料必須和被測量的工件*。

說明：歸一化會刪除所有的內(nèi)存數(shù)據(jù)。

歸一化儀器 (前提: 儀器處于開啟狀態(tài))

• 按 [CAL]鍵. 顯示 "Base" (即 “未鍍過的底材”).
• 在底材上測量五次左右
  每次測量后，會顯示當前的讀數(shù)。
• 按兩次[OK] 鍵.
  屏幕顯示 “Er17”，忽略它。
  完成歸一化程序。

4  校準

校準需要有下面幾項東西：底材（形狀和底材物料要與待測部件*）和一片標準片(儀器隨機的75 µm左右標準片)。 說明：校準將刪除內(nèi)存中的所有讀數(shù)。

校準儀器（前提：儀器必須打開）

• 按 [CAL]鍵。
  顯示 "Base" (即 “未鍍過的底材”)
• 在底材上測量五次左右.
  每次測量后，會顯示當前的讀數(shù)。 
• 按 [OK]鍵.  
  顯示 0.00 和 STD1 (即校準標準片 # 1).
• 把校準標準片放在底材上，并測量5次左右。
  每次測量后，屏幕上會顯示當前讀數(shù)。
• 用 [5] 或 [6]鍵調(diào)整第4步的zui后一個數(shù)值至標準片的標稱值， 如“75 µm”。 標準片的標稱值注明在標準片上。
• 按 [OK]鍵。
  完成校準程序. 儀器返回測量狀態(tài).

5  刪除校準資料 / 恢復初始曲線

有時，如果經(jīng)過校準后，儀器測量仍然不準確，則可以刪除校準參數(shù)。如果先前的校準程序沒有正確進行的話，就可能會發(fā)生這種情況。
在這種情況下，可以把特征曲線恢復到原始的出廠設定。

刪除儀器的校準參數(shù) （前提：儀器必須打開）

• 按[CAL]鍵. 屏幕上顯示"Base" (即 “底材”) .
• 在底材上測量5次左右.
• 按[OK]鍵. 顯示 “STD1" (即校準標準片 # 1) .
• 在底材上測量1次.
  屏幕將顯示0左右的讀數(shù).
• 用[5] 或 [6] 鍵將 STD1調(diào)整到 0.00 .
  屏幕將顯示 “0.00   STD1” .
• 按 [OK] 鍵?；謴偷匠跏嫉奶卣髑€。 
  恢復完成。 儀器現(xiàn)在可以測量了。

6  服務菜單

進入服務菜單及設定方法：

• 按[OK]鍵10次。屏幕上顯示“157”。
• 用[5]鍵設定到“159”。
• 按[OK]。屏幕顯示 FREE。
• 用[5] [6]鍵選擇服務菜單編號  (只可選 # 5 到 #10)
• 重復按[OK]選擇菜單內(nèi)容， 利用 [5]或 [6] 進行設定。
• zui后按[OK]離開服務程序。

7.技術(shù)參數(shù)：